日本SANKO三高膜厚計探頭

日本SANKO三高膜厚計探頭
可進行鐵材和非鐵材為基材上的涂層厚度。
新的兩用探測頭FN-325可用于SWT系列的產(chǎn)品（7000、8000、9000）可測量鐵與非鐵底材為基體的涂層厚度。

產(chǎn)品型號：SWT-9000
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
更新時間：2024-08-09
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產(chǎn)品詳情

    日本SANKO三高膜厚計探頭

    SWT-7000+FN325探頭：可進行鐵材和非鐵材為基材上的涂層厚度。

    新的兩用探測頭FN-325可用于SWT系列的產(chǎn)品（7000、8000、9000）可測量鐵與非鐵底材為基體的涂層厚度。

    SWT系列探頭可互換。

    ◆兩用型:FN-325

    ◆鐵材用:Fe系列

    ◆非鐵材:NFe系列

探測頭型號	FN-325
測量方式	電磁式·渦電流式兩用(鐵·非鐵底材自動識別)
測量范圍	鐵底材：0～3.00mm、非鐵底材：0～2.50mm
表示分辨率	1μm：0～999μm的切換（鐵·非鐵共通）
	0.1μm：0～400μm（鐵·非鐵共通）
	0.5μm：400～500μm（鐵·非鐵共通）
	0.01mm:1.00～3.00mm（鐵底材）
	0.01mm:1.00～2.50mm（非鐵底材）
測量精度	0～100μm：:1μm（鐵·非鐵共通）
（平滑表面）	或者是指示值的±2%以內(nèi)
	101μm～3.00mm:±2%以內(nèi)（鐵底材）
	101μm～2.50mm:±2%以內(nèi)（非鐵底材）
探測部	1點定壓接觸式、V形切口、φ13×52mm、72g
選擇產(chǎn)品	V形探測頭套有3種(φ5以下用,φ5～10用,φ10～20用)
附屬品	標準校正板、試驗用零校正板、（鐵用·非鐵用）
測量對象	鐵底材：鐵·鋼等磁性金屬底材上的皮膜、襯層、噴涂膜
	電鍍（電解鎳除外）等
	非鐵底材：鋁、銅等非磁性金屬底材上的絕緣皮膜等
	一般較普遍的測量物用

SWT-7000Ⅲ系列機型

機型	SWT-7000Ⅲ	SWT-7100Ⅲ		SWT-7200Ⅲ
測量范圍	連接的探測頭不同測量范圍也不同。
顯示方式	液晶顯示LCD（數(shù)據(jù)·提示信息）、背光燈
檢量線校正	2點校正方式（零校正、標準校正）
檢量線存儲	鐵、非鐵各1根			10根
測量值存儲	—			20,000點
數(shù)據(jù)傳送	—	USB		USB
統(tǒng)計功能	—	—		內(nèi)藏
	●背光燈 ●測量模式的切換(普通／連續(xù))●檢量線、校正值的刪除
附加功能	●自動關(guān)機功能(約3分以上不操作時,機器會自動關(guān)機)●分辨率的切換
	●上下限值的設(shè)定（SWT-7200Ⅲ）
電源	單3電池×2		單3電池×2電源線
使用溫度	0～40C°（不結(jié)露）
機體尺寸·重量	72（W）×30（H）×156（D）mm、重量 210g
附屬品	干電池、收納袋子	干電池、收納袋子、電源線、USB線、USB軟件（CD）
追加產(chǎn)品	鐵材金屬用探測頭（Fe）、非鐵材金屬用探測頭（NFe）
	鐵·非鐵材用探測頭（FN-325）

SWT-7000Ⅲ系列的鐵材金屬用探測頭（1）（Fe）

型號	Fe-2.5/2.5L	Fe-2.5LwA	Fe-0.6Pem
測量方式	電磁感應(yīng)式
測量范圍	0～2.50mm		0～600μm
表示分解率	1μm：0～999μm		1μm：0～600μm
	切換		切換
	0.1μm：0～400μm		0.1μm：0～400μm
	0.5μm：400～500μm		0.5μm：400～500μm
	0.01mm:1.00～2.50mm
測量精度	0～100μm:±1μm		0～100μm:±1μm
（平滑面）	又或者時顯示值的±2%以內(nèi)		又或者時顯示值的±2%以內(nèi)
	101μm～2.50mm：±2%		101μm～600μm：±2%
探測部	1點定壓接觸式	1點定壓接觸式	1點定壓接觸式
	V形口套頭	測量部:約20×57mm	Φ5.6×94mm
	2.5：φ13×48mm	全長:約550～1.550mm
	2.5L:18×23×67mm	（伸縮式）
選擇產(chǎn)品	V形套頭/—	—	—
選擇產(chǎn)品	（φ5以下用、φ5～10用、φ10～20用）	—	—
附屬品	標準校正片	標準校正片	標準校正片
	試驗用零校正板	試驗用零校正板（鐵用）	試驗用零校正板
	（鐵用）	收納袋子	（鐵用）
測量對象	鐵·鋼等的磁性金屬底材上的皮膜、襯層、噴涂層、電鍍層（電解鎳的電鍍層除外）等等	鐵·鋼等的磁性金屬底材是哪個的皮膜、襯層等等手不能進去、高的地方、有距離的地方的涂層厚度的測量。	鐵·鋼等磁性金屬底材上的涂層、襯層等狹小的地方、小的部位的涂層的膜厚測量。

SWT-7000Ⅲ系列的鐵材金屬用探測頭（2）（Fe）

型號	Fe-10	Fe-20
測量方式	電磁感應(yīng)式
測量范圍	0～10mm	0～20mm
表示分解率		1μm：0～999μm
	1μm：0～999μm	0.01mm:1～5mm
	0.01mm:1～10mm	0.1mm:5～20mm
測量精度	0～3mm：±（5μm＋顯示值的3%）
（平滑面）	3.01mm：顯示值的±3%
探測部	1點定壓接觸式	1點定壓接觸式
	V形口套頭	V形口套頭
	φ18×47mm	φ35×59mm
選擇產(chǎn)品	—	—
附屬品	標準校正片、試驗用零校正板（鐵用）
測量對象	鐵·鋼等磁性金屬底材的比較厚的涂層用	鐵·鋼等磁性金屬底材上的厚涂層用

WT-7000Ⅲ系列的非鐵材金屬用探測頭（NFe）

型號	NFe-2.0/NFe-2.0L	NFe-06	NFe-8
測量方式	渦電流式
測量范圍	0～2.00mm	0～600μm	0～8mm
	1μm：0～999μm	1μm：0～600μm
表示分解率	切換	切換	1μm：0～999μm
	0.1μm：0～400μm	0.1μm：0～400μm	0.01mm：1～8mm
	0.5μm：400～500μm	0.5μm：400～500μm
	0.01mm:1.00～2.00mm
	0～100μm:±1μm	0～100μm:±1μm	0～100μm:±1μm
	又或者時顯示值的±2%以內(nèi)	又或者時顯示值的±2%以內(nèi)	±（±1μm＋顯示值的±2%）
測量精度	101μm～2.00mm：	101μm～600μm：	101μm～8mm：
（平滑表面）	±2%以內(nèi)	±2%以內(nèi)	±2%以內(nèi)
	1點定壓接觸式	1點定壓接觸式	1點定壓接觸式
	V形口套頭	V形口套頭	V形口套頭
探測部	2.0：φ13×47mm	φ11×48mm	φ35×61mm
	2.0L：18×23×67mm
選擇產(chǎn)品	V形套頭/-	－	－
附屬品	標準校正片、試驗用零校正板（非鐵用）
測量對象	鋁、銅等非磁性金屬底材上的絕緣性皮膜等一般普通測量物用。	鋁、銅等非磁性金屬底材上的絕緣性皮膜等細小的圓棒、細管、小物件等的高安定性用。	鋁、銅等非磁性金屬底材上的絕緣性皮膜等比較厚的測量物用。